Scanning Electron Microscope (SEM)

SEM的型号为JEOL JSM – 6390，其放大倍数能够 达到30万倍 ，低真空，并配有一个完全eucentric 试样平台，样品的覆盖直径可达5’’。

当研究生物膜或其他含有水或水合 物样本时，低真空是必要的。

 

由于测量台可以倾斜，因此有可能 结合图像而建立表面的三维视图。这对于 研究点蚀特别有用。这是采用了 Alicona的MEX技术 。如上图左边 是一个表面的二维图像，右边是同一个表 面的三维图像。三维图像可以计算出深度 并且获得表面性质，如表面粗糙度。

EDS，起源于EDAX，可用于 配合扫描电镜SEM。此设备可以分辨样本中 所含元素和表面元素的分布。

扫描电镜的使用查询，预约及培训 ，请联系Dr. Fernando Farelas博士。